





簡(jiǎn)要描述:華測(cè)儀器Huace-TSDC熱刺激去極化電流測(cè)試系統(tǒng)是一種研究電荷存儲(chǔ)特性的試驗(yàn)技術(shù),用于確定初始電荷和捕獲電荷的活化能以及弛豫。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測(cè)儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
Huace-TSDC熱刺激去極化電流測(cè)試系統(tǒng)
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Huace-TSDC熱刺激去極化電流測(cè)試系統(tǒng)由華測(cè)儀器生產(chǎn),是用于預(yù)測(cè)EMC的HTRB性能,TSDC方法包括極化過(guò)程,在該過(guò)程中,電介質(zhì)樣品暴露在高電場(chǎng)強(qiáng)度和高溫環(huán)境下,在這種情況下,電荷被分離并在介電材料電子元件中移動(dòng)。
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
除去電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響
抗干擾模塊以及測(cè)試分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)1fA(10-15A)的測(cè)量分辨率,從而滿足了很多半導(dǎo)體,功能材料等器件的測(cè)試需求
除去不規(guī)則輸入的自動(dòng)平均值功能
自動(dòng)平均值是檢測(cè)電流的變化,并自動(dòng)將其進(jìn)行平均化的功能,在查看測(cè)量結(jié)果的同時(shí)不需要改變?cè)O(shè)置,通過(guò)自動(dòng)排除充電電流的過(guò)渡響應(yīng)時(shí)或接觸不穩(wěn)定導(dǎo)致偏差較大,電流輸入端口采用大口徑三軸連接器
產(chǎn)品參數(shù)
溫度范圍:-100~300°C
控溫精度:±0.25°C
升溫斜率:10℃/min(可設(shè)定)
測(cè)試頻率:電壓上限:±10kV
加熱方式:空氣加熱
降溫方式:液氮
樣品尺寸:φ≤50mm,d≤3mm
電極材料:黃銅
夾具輔助材料:99氧化鋁陶瓷/peek
低溫制冷:液氮
測(cè)試功能:TSDC
數(shù)據(jù)傳輸:RS-232

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