
簡要描述:華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀用于測量半導(dǎo)體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率,計(jì)算ZT值(熱電優(yōu)值);評估材料在高溫(如1500°C)或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | 華測儀器 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀
價(jià)格僅供參考,如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例,歡迎致電我司技術(shù)工程師
HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀由華測儀器生產(chǎn),是一款簡單易用的材料表征儀器,可以同時(shí)測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率,該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性、多功能集成等特點(diǎn),主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
產(chǎn)品優(yōu)勢
1.支持 RT 至 1200℃ 寬溫度范圍,兼容低溫至高溫測試,滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求;
提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環(huán)境,適配材料在不同反應(yīng)條件下的性能評估。
2. 塞貝克系數(shù)電阻測試儀塞貝克系數(shù)測量范圍 1~2500μV/K ,準(zhǔn)確度達(dá) ±7%,重復(fù)性 ±3% ,準(zhǔn)確捕捉微弱熱電效應(yīng);
電導(dǎo)率測量范圍覆蓋 0.01~2×105S/cm ,準(zhǔn)確度 ±5~8% ,支持從絕緣體到導(dǎo)體的全品類材料電阻率分析;
采用靜態(tài)直流法(塞貝克系數(shù))與四端法(電阻率),確保測量結(jié)果穩(wěn)定可靠。
3. 支持圓柱形(φ6mm)、棱柱形(2~5mm面寬)及圓盤狀(10~25.4mm)多種樣品尺寸,適配復(fù)雜形狀試樣;
可調(diào)探頭距離(4/6/8mm)與三明治夾持結(jié)構(gòu),保障樣品接觸穩(wěn)定性,減少測量誤差;
靈活應(yīng)對不同溫區(qū)與材料特性。
4. 電源輸出 0~1A,具備長期穩(wěn)定性,支持連續(xù)高溫實(shí)驗(yàn)與長時(shí)間數(shù)據(jù)采集;
配備K/S/C型熱電偶,實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確溫度監(jiān)控與閉環(huán)控制。

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