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  • Huace離子遷移(CAF)評(píng)估系統(tǒng)
    Huace離子遷移(CAF)評(píng)估系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-12

    型號(hào):Huace

    瀏覽量:226

    華測儀器離子遷移(CAF)評(píng)估系統(tǒng)離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。
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  • HC-RD-1100高溫塞貝克系數(shù)與電阻測試系統(tǒng)
    HC-RD-1100高溫塞貝克系數(shù)與電阻測試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-11

    型號(hào):HC-RD-1100

    瀏覽量:231

    華測儀器HC-RD-1100高溫塞貝克系數(shù)與電阻測試系統(tǒng)是一款簡單易用的材料表征儀器,可以同時(shí)測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
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  • HuaceSIR絕緣電阻劣化(離子遷移)測試系統(tǒng)
    HuaceSIR絕緣電阻劣化(離子遷移)測試系統(tǒng)

    更新時(shí)間:2026-03-11

    型號(hào):Huace

    瀏覽量:236

    華測儀器SIR絕緣電阻劣化(離子遷移)測試系統(tǒng)是通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓,并經(jīng)過長時(shí)間的測試,觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生。
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  • HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀
    HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀

    更新時(shí)間:2026-03-10

    型號(hào):HC-RD-1100

    瀏覽量:245

    華測儀器HC-RD-1100熱電材料塞貝克系數(shù)電阻測定儀用于測量半導(dǎo)體、方鈷礦等熱電材料的塞貝克系數(shù)與電導(dǎo)率,計(jì)算ZT值(熱電優(yōu)值);評(píng)估材料在高溫(如1500°C)或特定環(huán)境(真空/還原氣氛)下的熱電轉(zhuǎn)換效率。
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  • HC-RD-1100塞貝克系數(shù)與電阻率測試儀
    HC-RD-1100塞貝克系數(shù)與電阻率測試儀

    更新時(shí)間:2026-03-10

    型號(hào):HC-RD-1100

    瀏覽量:258

    華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數(shù)與電阻率測試儀是一款簡單易用的材料表征儀器,可以同時(shí)測定樣品在RT至1200℃溫度范圍內(nèi)的塞貝克系數(shù)和電阻率。
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  • HC-RD-1100Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率測試儀
    HC-RD-1100Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率測試儀

    更新時(shí)間:2026-03-09

    型號(hào):HC-RD-1100

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    華測儀器HC-RD-1100 Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率測試儀該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性、多功能集成等特點(diǎn),主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
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  • HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀
    HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀

    更新時(shí)間:2026-03-09

    型號(hào):HC-RD-1100

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    華測儀器HC-RD-1100塞貝克系數(shù)電阻測試儀該產(chǎn)品具有寬溫區(qū)覆蓋、高適應(yīng)性、多功能集成等特點(diǎn),主要服務(wù)于熱電材料研發(fā)、新能源器件測試及半導(dǎo)體性能分析等領(lǐng)域。
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  • HC-PAX多通道電流矩陣測試模塊
    HC-PAX多通道電流矩陣測試模塊

    更新時(shí)間:2026-03-06

    型號(hào):HC-PAX

    瀏覽量:287

    華測儀器HC-PAX多通道電流矩陣測試模塊是一種模塊化的電流控制解決方案,支持單獨(dú)控制多路電流通道(8~128通道),可同時(shí)輸出/吸入精度可調(diào)的直流電流。
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